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DNA鑒定—堿基切割序列掃描

      堿基切割序列掃描(base excision sequence scaning,BESS)是一種不通過測序而檢測和定位突變的新技術(shù)。它的基本技術(shù)路線是:用熒光或同位素標(biāo)記的引物在有dUTP的條件下進行PCR擴增,選用適宜限制酶將PCR產(chǎn)物于dU位點處切斷,以高分辨PAGE膠分離并比較待檢和標(biāo)準(zhǔn)對照條帶,從而檢測和定位突變。BESS的一個反應(yīng)就可篩查長達(dá)千個堿基的DNA序列,而且它對點突變、缺失、插入、倒位及框移動的檢測有效率大于95%。該技術(shù)以其突變檢測效率高和覆蓋面廣而被推廣和應(yīng)用。
 

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